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參數資料
| 型號： | 74LVC574APW,118 |
| 廠商： | NXP Semiconductors |
| 文件頁數： | 3/19頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC OCT D FF POS-EDG TRIG 20TSSOP |
| 產品培訓模塊： | Logic Packages |
| 標準包裝： | 1 |
| 系列： | 74LVC |
| 功能： | 標準 |
| 類型： | D 型總線 |
| 輸出類型： | 三態非反相 |
| 元件數： | 1 |
| 每個元件的位元數： | 8 |
| 延遲時間 - 傳輸： | 9ns |
| 觸發器類型： | 正邊沿 |
| 輸出電流高，低： | 24mA，24mA |
| 電源電壓： | 1.2 V ~ 3.6 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 125°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 20-TSSOP（0.173"，4.40mm 寬） |
| 包裝： | 標準包裝 |
| 產品目錄頁面： | 839 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名稱： | 568-4502-6 |
74LVC574A
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NXP B.V. 2012. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 5 — 18 December 2012
11 of 19
NXP Semiconductors
74LVC574A
Octal D-type flip-flop; 5 V tolerance; positive edge-trigger; 3-state
Test data is given in Table 9.
Definitions for test circuit:
RL = Load resistance.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator.
VEXT = External voltage for measuring switching times.
Fig 10. Test circuitry for measuring switching times
VM
tW
10 %
90 %
0 V
VI
negative
pulse
positive
pulse
0 V
VM
90 %
10 %
tf
tr
tf
001aae331
VEXT
VCC
VI
VO
DUT
CL
RT
RL
G
Table 9.
Test data
Supply voltage
Input
Load
VEXT
VI
tr, tf
CL
RL
tPLH, tPHL
tPLZ, tPZL
tPHZ, tPZH
1.2 V
VCC
2 ns
30 pF
1 k
open
2
V
CC
GND
1.65 V to 1.95 V
VCC
2 ns
30 pF
1 k
open
2
V
CC
GND
2.3 V to 2.7 V
VCC
2 ns
30 pF
500
open
2
V
CC
GND
2.7V
2.5 ns
50 pF
500
open
2
V
CC
GND
3.0Vto 3.6V
2.7V
2.5 ns
50 pF
500
open
2
V
CC
GND
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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| 2408NL-05W-B29-L50 | FAN DC AXIAL 24V 60X20 TAC |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
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| 74LVC594ABQ-G | 功能描述:計數器移位寄存器 3.3V SHIFT REG WITH OUTPT REG RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計數器類型: 計數順序:Serial to Serial/Parallel 電路數量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類型: 輸入線路數量:1 輸出類型:Open Drain 傳播延遲時間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel |
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