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參數資料
型號: 74LVQ00T
廠商: 意法半導體
英文描述: QUAD 2-INPUT NAND GATE
中文描述: 四2輸入與非門
文件頁數: 3/8頁
文件大小: 56K
代理商: 74LVQ00T
DC SPECIFICATIONS
Symbol
Parameter
Test Conditions
Value
Unit
V
CC
(V)
T
A
= 25
o
C
Min.
Typ.
2.0
-40 to 85
o
C
Min.
2.0
Max.
Max.
V
IH
V
IL
V
OH
High Level Input Voltage
Low Level Input Voltage
High Level Output
Voltage
3.0 to
3.6
V
V
0.8
0.8
3.0
V
I(*)
=
V
IH
or
V
IL
I
O
=-50
μ
A
I
O
=-12 mA
I
O
=-24 mA
I
O
=50
μ
A
I
O
=12 mA
I
O
=24 mA
2.9
2.58
2.99
2.9
2.48
2.2
V
V
OL
Low Level Output
Voltage
3.0
V
I(*)
=
V
IH
0.002
0
0.1
0.36
0.1
0.44
0.55
±
1
20
V
I
I
Input Leakage Current
Quiescent Supply
Current
Dynamic Output Current
(note 1, 2)
3.6
3.6
V
I
= V
CC
or GND
V
I
= V
CC
or GND
±
0.1
2
μ
A
μ
A
I
CC
I
OLD
I
OHD
3.6
V
OLD
= 0.8 V max
V
OHD
= 2 V min
36
-25
mA
mA
1)Maximumtestduration 2ms,oneoutput loaded attime
2)Incident waveswitchingisguaranteed ontransmission lineswithimpedances aslowas50
.
(*)Alloutputs loaded.
DYNAMIC SWITCHING CHARACTERISTICS
Symbol
Parameter
Test Conditions
Value
Unit
V
CC
(V)
T
A
= 25
o
C
Min.
Typ.
-40 to 85
o
C
Min.
Max.
0.8
Max.
V
OLP
V
OLV
V
IHD
Dynamic Low Voltage
Quiet Output (note 1, 2)
3.3
C
L
= 50 pF
0.3
-0.3
V
-0.8
Dynamic High Voltage
Input (note 1, 3)
Dynamic Low Voltage
Input (note 1, 3)
1)Worstcasepackage.
2)Maxnumber ofoutputsdefined as(n).Datainputsaredriven0Vto3.3V,(n-1)outputs switching andone outputatGND.
3)Maxnumber ofdatainputs (n)switching.(n-1)switching0Vto3.3V. Inputsunder testswitching: 3.3Vtothreshold (V
ILD
),0Vtothreshold (V
IHD
),f=1MHz.
3.3
2
V
ILD
3.3
0.8
74LVQ00
3/8
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PDF描述
74LVQ00M QUAD 2-INPUT NAND GATE
74LVQ00SJ Low Voltage Quad 2-Input NAND Gate
74LVQ00SJX 16 characters x 4 Lines, 5x7 Dot Matric Character and Cursor
74LVQ00 Low Voltage Quad 2-Input NAND Gate
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