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參數資料
| 型號： | AD8400 |
| 廠商： | Analog Devices, Inc. |
| 元件分類： | 通用總線功能 |
| 英文描述： | 32-Tap. Nonvolatile. Linear-Taper Digital Potentiometers in SOT23 |
| 中文描述： | 32抽頭、非易失、線性變化數字電位器，SOT23封裝 |
| 文件頁數： | 11/20頁 |
| 文件大小： | 496K |
| 代理商： | AD8400 |
Parametric Test Circuits–AD8400/AD8402/AD8403
V+
DUT
V
MS
A
B
W
V+ = V
DD
1LSB = V+/256
Figure 29. Potentiometer Divider Nonlinearity Error Test
Circuit (INL, DNL)
DUT
A
V
MS
B
W
NO CONNECT
I
W
Figure 30. Resistor Position Nonlinearity Error (Rheostat
Operation; R-INL, R-DNL)
I
MS
V
– [V
+ I
(R
II R
)]
W
WHERE V
W1
= V
MS
WHEN
I
W
= 0
AND V
W2
= V
MS
WHEN
I
W
= 1/R
V+
≈
V
DD
V+
DUT
V
MS
A
B
W
V
W
I
W
=
1V/R
NOMINAL
R
W
= –––––––––––I
Figure 31. Wiper Resistance Test Circuit
PSRR (dB) = 20LOG
(
–V
)
PSS (%/%) = –V
V
DD
V
%
DD
%
V+ = V
DD
±
10%
V+
V
MS
A
B
W
V
DD
V
A
~
Figure 32. Power Supply Sensitivity Test Circuit (PSS,
PSRR)
A
B
V
IN
2.5V DC
OP279
+5V
V
OUT
~
DUT
W
OFFSET
GND
Figure 33. Inverting Programmable Gain Test Circuit
~
A
B
V
IN
2.5V
OP279
+5V
V
OUT
DUT
W
OFFSET
GND
Figure 34. Noninverting Programmable Gain Test Circuit
~
B
A
V
IN
2.5V
+15V
V
OUT
DUT
W
–15V
OFFSET
GND
OP42
Figure 35. Gain vs. Frequency Test Circuit
DUT
I
SW
B
W
→
0 toV
DD
R
SW
=
0.1V
I
SW
CODE =
H
0.1V
Figure 36. Incremental ON Resistance Test Circuit
REV. B
–11–
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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| AD8403AN100 | 32-Tap. Nonvolatile. Linear-Taper Digital Potentiometers in SOT23 |
| AD8400AN1 | 32-Tap. Nonvolatile. Linear-Taper Digital Potentiometers in SOT23 |
| AD8400AN10 | 32-Tap. Nonvolatile. Linear-Taper Digital Potentiometers in SOT23 |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| AD8400AN1 | 制造商:AD 制造商全稱:Analog Devices 功能描述:1-/2-/4-Channel Digital Potentiometers |
| AD8400AN10 | 制造商:AD 制造商全稱:Analog Devices 功能描述:1-/2-/4-Channel Digital Potentiometers |
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