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參數(shù)資料
型號: CAT24WC66XE-TE13
元件分類: DRAM
英文描述: 64K-Bit I2C Serial CMOS EEPROM
中文描述: 64K的位I2C串行CMOS EEPROM的
文件頁數(shù): 1/7頁
文件大小: 92K
代理商: CAT24WC66XE-TE13
1
CAT24C01B
1K-Bit Serial EEPROM
PIN CONFIGURATION
BLOCK DIAGRAM
PIN FUNCTIONS
Pin Name
Function
NC
No Connect
SDA
Serial Data/Address
SCL
Serial Clock
VCC
+1.8V to +6.0V Power Supply
VSS
Ground
TEST
Test Input (GND, VCC or
Floating)
DIP Package (P)
SOIC Package (J)
5020 FHD F01
FEATURES
I 2-Wire Serial Interface
I 1.8 to 6.0Volt Operation
I Low Power CMOS Technology
I 4-Byte Page Write Buffer
I Self-Timed Write Cycle with Auto-Clear
I 1,000,000 Program/Erase Cycles
I 100 Year Data Retention
I 8-pin DIP, 8-pin SOIC, 8-pin TSSOP or 8-pin MSOP
I Commercial, Industrial and Automotive
Temperature Ranges
DESCRIPTION
The CAT24C01B is a 1K-bit Serial CMOS EEPROM
internally organized as 128 words of 8 bits each. Catalyst’s
advanced CMOS technology substantially reduces de-
vice power requirements. The CAT24C01B features a
4-byte page write buffer. The device operates via a 2-
wire serial interface and is available in 8-pin DIP, 8-pin
SOIC, 8-pin TSSOP or 8-pin MSOP.
1999 by Catalyst Semiconductor, Inc.
Characteristics subject to change without notice
TSSOP Package (U)
Doc. No. 25085-00 7/99 S-1
DOUT
ACK
SENSE AMPS
SHIFT REGISTERS
CONTROL
LOGIC
WORD ADDRESS
BUFFERS
START/STOP
LOGIC
STATE COUNTERS
E2PROM
VCC
EXTERNAL LOAD
COLUMN
DECODERS
XDEC
DATA IN STORAGE
HIGH VOLTAGE/
TIMING CONTROL
VSS
SCL
SDA
NC
VSS
1
2
3
4
8
7
6
5
VCC
TEST
SCL
SDA
VCC
SCL
SDA
1
2
3
4
8
7
6
5
VSS
NC
TEST
VCC
SCL
SDA
1
2
3
4
8
7
6
5
VSS
NC
TEST
MSOP Package (R)
8
7
6
5
VCC
TEST
SCL
SDA
NC
VSS
1
2
3
4
EEPROM
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相關(guān)PDF資料
PDF描述
CAT24WC164XE-TE13 16K-Bit Serial EEPROM, Cascadable
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CAT25010LA 功能描述:電可擦除可編程只讀存儲器 (128x8) 1k 2.5-6.0 RoHS:否 制造商:Atmel 存儲容量:2 Kbit 組織:256 B x 8 數(shù)據(jù)保留:100 yr 最大時鐘頻率:1000 KHz 最大工作電流:6 uA 工作電源電壓:1.7 V to 5.5 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:SOIC-8
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