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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | GS881E36AT-200 |
| 廠商： | GSI TECHNOLOGY |
| 元件分類： | DRAM |
| 英文描述： | 512K x 18, 256K x 36 9Mb Synchronous Burst SRAMs |
| 中文描述： | 256K X 36 CACHE SRAM, 6.5 ns, PQFP100 |
| 封裝： | TQFP-100 |
| 文件頁數(shù)： | 32/37頁 |
| 文件大小： | 662K |
| 代理商： | GS881E36AT-200 |
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GS881E18/36AT-250/225/200/166/150/133
Specifications cited are subject to change without notice. For latest documentation see http://www.gsitechnology.com.
Rev: 1.03 11/2004
24/29
2001, GSI Technology
JTAG TAP Instruction Set Summary
Instruction
Code
Description
Notes
EXTEST
000
Places the Boundary Scan Register between TDI and TDO.
1
IDCODE
001
Preloads ID Register and places it between TDI and TDO.
1, 2
SAMPLE-Z
010
Captures I/O ring contents. Places the Boundary Scan Register between TDI and
TDO.
Forces all RAM output drivers to High-Z.
Do not use this instruction; Reserved for Future Use.
Replicates BYPASS instruction. Places Bypass Register between TDI and TDO.
1
RFU
011
1
SAMPLE/
PRELOAD
100
Captures I/O ring contents. Places the Boundary Scan Register between TDI and
TDO.
1
GSI
101
GSI private instruction.
Do not use this instruction; Reserved for Future Use.
Replicates BYPASS instruction. Places Bypass Register between TDI and TDO.
1
RFU
110
1
BYPASS
111
Places Bypass Register between TDI and TDO.
1
Notes:
1.
2.
Instruction codes expressed in binary, MSB on left, LSB on right.
Default instruction automatically loaded at power-up and in test-logic-reset state.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| GS881E36AT-200I | 512K x 18, 256K x 36 9Mb Synchronous Burst SRAMs |
| GS881E36AT-200IT | 512K x 18, 256K x 36 9Mb Synchronous Burst SRAMs |
| GS881E36AT-200T | 512K x 18, 256K x 36 9Mb Synchronous Burst SRAMs |
| GS881E36AT-225 | 512K x 18, 256K x 36 9Mb Synchronous Burst SRAMs |
| GS881E36AT-225I | 512K x 18, 256K x 36 9Mb Synchronous Burst SRAMs |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
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| GS881E36AT-200IT | 制造商:GSI 制造商全稱:GSI Technology 功能描述:512K x 18, 256K x 36 9Mb Synchronous Burst SRAMs |
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