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參數資料
| 型號： | HI1386JCP |
| 廠商： | HARRIS SEMICONDUCTOR |
| 元件分類： | ADC |
| 英文描述： | 8-Bit, 75 MSPS, Flash A/D Converter |
| 中文描述： | 1-CH 8-BIT FLASH METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, PDIP28 |
| 文件頁數： | 8/9頁 |
| 文件大小： | 83K |
| 代理商： | HI1386JCP |
4-1155
FIGURE 5A.
FIGURE 5B.
FIGURE 5. ANALOG INPUT BIAS AND POWER SUPPLY CURRENT TEST CIRCUITS
Aperture jitter is defined as follows:
σ
t
,
Where
σ
(unit: LSB) is the deviation of the output codes when the
input frequency is exactly the same as the clock and is sampled at
the largest slew rate point.
FIGURE 6A.
FIGURE 6B. APERTURE JITTER TEST METHOD
FIGURE 6. SAMPLING DELAY AND APERTURE JITTER TEST CIRCUIT
Test Circuits
(Continued)
A
-1V
I
IN
-2V
A I
EE
-5.2V
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
HI1386JCP
A
I
EE
-5.2V
-2V
A
I
IN
-1V
HI1386AIL,
CXA1386K
14
13
12
11
10
9
8
7
17
16
15
2
5
30
35
39
38
37
36
33
34
32
31
29
4
6
3
1
40
41
42
43
44
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
V
IN
HI1386
8
CLK
LOGIC
ANALYZER
1024
SAMPLES
ECL
BUFFER
AMP
OSC1
φ
: VARIABLE
OSC2
37.5MHz
37.5MHz
f
R
APERTURE JITTER
σ
(LSB)
129
128
127
126
125
0V
-1V
-2V
V
IN
CLK
V
IN
CLK
υ
t
t
t
AJ
-------
σ
---------
2
π
f
×
=
=
HI1386
相關PDF資料 |
PDF描述 |
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相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
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