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參數資料
型號： LC4256C-75T176C
文件頁數： 29/57頁
文件大小： 1078K
代理商： LC4256C-75T176C
Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C Family Data Sheet
29
Switching Test Conditions
Figure 11 shows the output test load that is used for AC testing. The speci
fi
c values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 9.
Figure 11. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 9. Test Fixture Required Components
Test Condition
R
1
R
2
C
L
1
Timing Ref.
V
CCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
106
35pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 2.5 = V
CCO
/2
LVCMOS 1.8 = V
CCO
/2
1.5V
1.5V
V
OH
- 0.3
V
OL
+ 0.3
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = 1.65V
3.0V
3.0V
3.0V
3.0V
LVCMOS I/O (Z -> H)
LVCMOS I/O (Z -> L)
LVCMOS I/O (H -> Z)
LVCMOS I/O (L -> Z)
1. C
L
includes test
fi
xtures and probe capacitance.
∞
106
35pF
35pF
5pF
5pF
106
∞
∞
106
106
∞
V
CCO
R1
R2
CL
DUT
Test
Point
0213A/ispm4k
相關PDF資料
PDF描述
LC4256C-75T176I
LC4256V-10F256AI
LC4256V-10T100I
LC4256V-10T176I
LC4256V-3F256AC
相關代理商/技術參數
參數描述
LC4256C-75T176I 功能描述:CPLD - 復雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
LC4256C-75TN100C 功能描述:CPLD - 復雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
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LC4256C-75TN176C 功能描述:CPLD - 復雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
LC4256C-75TN176I 功能描述:CPLD - 復雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
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