凱智通
DDR2*8測試治具
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產品特點及性能參數:
◆產品通用程度高,只要換IC限位框,即可測試所有位數相同的同代內存IC(寬度≤12MM);
◆有球無球均可測試(只需更換上蓋的IC壓板);
◆采用手動翻蓋式結構,操作方便;
◆上蓋的IC壓板采用擺動式結構,下壓平穩,保證IC的壓力均勻,不移位;
◆探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層,接觸可靠,而不會損壞錫球;
◆高精度的定位槽,保證IC定位精確,測試效率高,材料:FR4、鋁合金;
◆測試準確性高,大大減少誤判率;
◆采進口雙頭針,探針可更換,維修方便,成本低;
◆絕緣材料:FR4、Torlon、PEO、PEEK;限位框鋁合金材料制作;
◆測試頻率可達1333MHz(高端的可達2.5GHz);
◆測試壽命長,有效測試10萬次以上;
◆還可定制單顆內存IC與服務器內存主控IC的測試夾具
◆可以免費提供相關的技術支持
電話:0755-27340793/27340893/61177232/61177289/61177298
聯系人:曾艷平 (女士)
QQ:
郵箱:zengyp@icsocket.net
地址:深圳市寶安區西鄉固戍下圍園新聯三工業區A棟
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