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參數資料
| 型號： | TPS71H48QPWP |
| 廠商： | Texas Instruments, Inc. |
| 元件分類： | 基準電壓源/電流源 |
| 英文描述： | LOW-DROPOUT VOLTAGE REGULATORS |
| 中文描述： | 低壓差電壓調節器 |
| 文件頁數： | 8/40頁 |
| 文件大小： | 634K |
| 代理商： | TPS71H48QPWP |
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TPS71H01Q, TPS71H33Q, TPS71H48Q, TPS71H50Q
LOW-DROPOUT VOLTAGE REGULATORS
SLVS152B
–
NOVEMBER 1996
–
REVISED AUGUST 2002
8
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
TPS71H33 electrical characteristics at I
O
= 10 mA, V
I
= 4.3 V, EN = 0 V, C
O
= 4.7
μ
F/CSR
= 1
, SENSE
shorted to OUT (unless otherwise noted)
PARAMETER
TEST CONDITIONS
TJ
TPS71H33Q
TYP
UNIT
MIN
MAX
Output voltage
VI = 4.3 V,
4.3 V
≤
VI
≤
10 V,
IO = 10 mA
5 mA
≤
IO
≤
500 mA
25
°
C
3.3
V
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
–
40
°
C to 125
°
C
25
°
C
3.23
3.37
IO = 10 mA,
VI = 3.23 V
3 23 V
4.5
7
8
Dropout voltage
IO = 100 mA,
VI = 3.23 V
3 23 V
47
60
mV
80
IO = 500 mA,
VI = 3.23 V
3 23 V
235
300
400
Pass-element series
Pass element series
resistance
–
(3.23 V VO)/IO,
IO = 500 mA
VI = 3.23 V,
0.47
0.6
0.8
Input regulation
VI = 4.3 V to 10 V,
4 3 V to 10 V
50 A
≤
A
IO
500 mA
≤
20
mV
27
IO = 5 mA to 500 mA,
4 3 V
≤
≤
4.3 V
VI
10 V
21
38
mV
Output regulation
75
IO = 50 A to 500 mA
μ
A to 500 mA,
4 3 V
≤
≤
4.3 V
VI
10 V
30
60
mV
120
IO = 50 A
μ
A
43
54
Ripple rejection
f = 120 Hz
40
dB
IO = 500 mA
39
49
36
Output noise-spectral density
f = 120 Hz
2
μ
V/
√
Hz
CO = 4.7
μ
F
CO = 10
μ
F
CO = 100
μ
F
25
°
C
25
°
C
25
°
C
274
Output noise voltage
10 Hz
≤
f
≤
100 kHz,
228
Vrms
μ
CSR
= 1
159
PG trip-threshold voltage
VO voltage decreasing from above VPG
–
40
°
C to 125
°
C
2.868
3
V
PG hysteresis voltage
25
°
C
25
°
C
35
mV
PG output low voltage
IPG= 1 mA
IPG = 1 mA,
VI= 2 8 V
VI = 2.8 V
0.22
0.4
0.4
V
–
40
°
C to 125
°
C
CSR refers to the total series resistance, including the ESR of the capacitor, any series resistance added externally, and PWB trace resistance
to CO.
Pulse-testing techniques are used to maintain virtual junction temperature as close as possible to ambient temperature; thermal effects must
be taken into account separately.
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