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參數資料
型號： A3PN125-Z1VQG100I
元件分類： FPGA
英文描述： FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100
封裝： 14 X 14 MM, 1.20 MM HEIGHT, 0.50 MM PITCH, ROHS COMPLIANT, VQFP-100
文件頁數： 29/100頁
文件大小： 3284K
代理商： A3PN125-Z1VQG100I
ProASIC3 nano DC and Switching Characteristics
2- 20
Advance v0.2
Single-Ended I/O Characteristics
3.3 V LVTTL / 3.3 V LVCMOS
Low-Voltage Transistor–Transistor Logic (LVTTL) is a general-purpose standard (EIA/JESD) for 3.3 V
applications. It uses an LVTTL input buffer and push-pull output buffer.
Table 2-27 Minimum and Maximum DC Input and Output Levels
3.3 V LVTTL /
3.3 V LVCMOS
VIL
VIH
VOL
VOH
IOL
IO
H
IOSL
IOSH
IIL
1
IIH
2
Drive Strength
Min.,
V
Max.,
V
Min.,
V
Max.,
V
Max.,
V
Min.,
V
m
A
m
AMax., mA3 Max., mA3
A
4
A
4
2 mA
–0.3
0.8
2
3.6
0.4
2.4
2
25
27
10
4 mA
–0.3
0.8
2
3.6
0.4
2.4
4
25
27
10
6 mA
–0.3
0.8
2
3.6
0.4
2.4
6
51
54
10
8 mA
–0.3
0.8
2
3.6
0.4
2.4
8
51
54
10
Notes:
1. IIL is the input leakage current per I/O pin over recommended operation conditions where –0.3 V < VIN <
VIL.
2. IIH is the input leakage current per I/O pin over recommended operating conditions VIH < VIN < VCCI. Input
current is larger when operating outside recommended ranges.
3. Currents are measured at high temperature (100°C junction temperature) and maximum voltage.
4. Currents are measured at 85°C junction temperature.
5. Software default selection highlighted in gray.
Figure 2-6 AC Loading
Table 2-28 3.3 V LVTTL/LVCMOS AC Waveforms, Measuring Points, and Capacitive Loads
Input LOW (V)
Input HIGH (V)
Measuring Point* (V)
CLOAD (pF)
03.3
1.4
10
Notes:
1. Measuring point = Vtrip. See Table 2-16 on page 2-16 for a complete table of trip points.
2. Capacitive Load for A3PN060, A3PN125, and A3PN250 is 35 pF.
Test Point
Enable Path
Datapath
35 pF
R = 1 k
R to VCCI for tLZ/tZL/tZLS
R to GND for tHZ/tZH/tZHS
35 pF for tZH/tZHS/tZL/tZLS
5 pF for tHZ/tLZ
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PDF描述
A3PN125-Z1VQG100 FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100
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