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參數資料
| 型號： | ADUC7026BST62 |
| 廠商： | ANALOG DEVICES INC |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | Precision Analog Microcontroller 12-bit Analog I/O, ARM7TDMI MCU |
| 中文描述： | 32-BIT, FLASH, 45.5 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP80 |
| 封裝： | PLASTIC, LQFP-80 |
| 文件頁數： | 5/80頁 |
| 文件大小： | 840K |
| 代理商： | ADUC7026BST62 |
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Preliminary Technical Data
ADuC702x Series
Parameter
POWER REQUIREMENTS
13
,
14
Power Supply Voltage Range
AV
DD
– AGND and IOV
DD
- IOGND
Rev. PrB | Page 5 of 80
ADuC702x
Unit
Test Conditions/Comments
2.7
3.6
V min
V max
mA typ
mA max
mA typ
mA max
Power Supply Current Normal Mode
3mA
5
50
60
1MHz clock
1MHz clock
45MHz clock
45MHz clock
External Crystal or Internal Osc ON
External Crystal or Internal Osc ON
Power Supply Current Idle Mode
Power Supply Current Power Down
Mode
1
30
100
mA max
μA typ
μA max
1
Temperature Range -40° to +85°C
2
All ADC Channel Specifications are guaranteed during normal MicroConverter core operation.
3
These specification apply to all ADC input channels.
4
These numbers are not production tested but are supported by design and/or characterization data on production release.
5
Based on external ADC system components, the user may need to execute a system calibration to remove external endpoint and achieve these specifications..
6
SNR calculation includes distortion and noise components.
7
Channel-to-channel crosstalk is measured on adjacent channels.
8
The input signal can be centered on any dc common-mode voltage (V
CM
) as long as this value is within the ADC voltage input range specified.
9
When using an external reference input pin, the internal reference must be disabled by setting the lsb in the REFCON Memeory Mapped Register to 0.
10
Endurance is qualified to 50,000 cycles as per JEDEC Std. 22 method A117 and measured at -40°C, +25°C and +85°C. Typical endurance at 25°C is 70,000 cycles.
11
Retention lifetime equivalent at junction temperature (Tj) = 55°C as per JEDEC Std. 22 method A117. Retention lifetime will derate with junction temperature.
12
Test carried out with a maximum of 20 I/O set to a low output level.
13
Power supply current consumption is measured in normal, idle and power-down modes under the following conditions:
Normal Mode:
TBD
Idle Mode:
TBD
Power-Down:
TBD
14
DV
DD
power supply current increases typically by TBD mA during a Flash/EE memory program or erase cycle.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
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參數描述 |
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