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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | HS-6664RH |
| 廠商： | Intersil Corporation |
| 英文描述： | Radiation Hardened 8K x 8 CMOS PROM |
| 中文描述： | 輻射加固8K的× 8的CMOS胎膜早破 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 5/14頁(yè) |
| 文件大小： | 222K |
| 代理商： | HS-6664RH |
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844
Specifications HS-6664RH
Timing Waveform
READ CYCLE
TABLE 6. APPLICABLE SUBGROUPS
CONFORMANCE GROUPS
METHOD
-Q SUBGROUPS
-8 SUBGROUPS
Initial Test
100%/5004
1, 7, 9
1, 7, 9
Interim Test
100%/5004
1, 7, 9
1, 7, 9
PDA 1 and 2
100%/5004
1, 7,
1, 7
Final Test
100%/5004
2, 3, 8A, 8B, 10, 11
2, 3, 8A, 8B, 10, 11
Group A
Samples/5005
1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11
1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11
Group B
(*Optional)
B5
Samples/5005
1, 2, 3, 7, 8A, 8B
N/A
Others
Samples/5005
1, 7,9
N/A
Group C (Optional)
Samples/5005
N/A
1, 7, 9
Group D (Optional)
Samples/5005
1, 7, 9
1, 7, 9
Group E, Subgroup 2 (Note 1)
Samples/5005
1, 7, 9
1, 7, 9
NOTE:
1. Intersil may exercise its option to perform to a small lot sampling plan of 5 units per lot.
VALID
DATA
TELQX
TGLQX
1.5V
1.5V
TGHQZ
TGLQV
1.5V
1.5V
TEHQZ
1.5V
1.5V
TELEH
TEHEL
TELQV
TELAX
TAVEL
TELEL
VALID
ADDRESS
1.5V
1.5V
TAVQV
VALID
ADDRESSES
TS
3.0V
0V
0V
3.0V
0V
3.0V
ADDRESSES
DATA
OUTPUT
Q0 - Q7
G
E
Spec Number
518741
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| HS-801 | ECL |
| HS-807 | ECL |
| HS-809 | ECL |
| HS-80A | ECL |
| HS-80B | ECL |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| HS-6664RH_00 | 制造商:INTERSIL 制造商全稱(chēng):Intersil Corporation 功能描述:Radiation Hardened 8K x 8 CMOS PROM |
| HS-6664RH-T | 制造商:INTERSIL 制造商全稱(chēng):Intersil Corporation 功能描述:Radiation Hardened 8K x 8 CMOS PROM |
| HS667 | 制造商:未知廠家 制造商全稱(chēng):未知廠家 功能描述:Peripheral IC |
| HS668 | 制造商:未知廠家 制造商全稱(chēng):未知廠家 功能描述:Peripheral IC |
| HS669 | 制造商:未知廠家 制造商全稱(chēng):未知廠家 功能描述:Peripheral IC |
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