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參數資料
| 型號： | LC4512B-35F256C |
| 文件頁數： | 29/57頁 |
| 文件大小： | 1078K |
| 代理商： | LC4512B-35F256C |
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Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C Family Data Sheet
29
Switching Test Conditions
Figure 11 shows the output test load that is used for AC testing. The speci
fi
c values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 9.
Figure 11. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 9. Test Fixture Required Components
Test Condition
R
1
R
2
C
L
1
Timing Ref.
V
CCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
106
35pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 2.5 = V
CCO
/2
LVCMOS 1.8 = V
CCO
/2
1.5V
1.5V
V
OH
- 0.3
V
OL
+ 0.3
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = 1.65V
3.0V
3.0V
3.0V
3.0V
LVCMOS I/O (Z -> H)
LVCMOS I/O (Z -> L)
LVCMOS I/O (H -> Z)
LVCMOS I/O (L -> Z)
1. C
L
includes test
fi
xtures and probe capacitance.
∞
106
35pF
35pF
5pF
5pF
106
∞
∞
106
106
∞
V
CCO
R1
R2
CL
DUT
Test
Point
0213A/ispm4k
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| LC4512B-35T176C | |
| LC4512B-5F256C | |
| LC4512B-5F256I | |
| LC4512B-5T176C | |
| LC4512B-5T176I | |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| LC4512B-35F256C1 | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs |
| LC4512B-35FN256C | 功能描述:CPLD - 復雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| LC4512B-35FN256C1 | 制造商:LATTICE 制造商全稱:Lattice Semiconductor 功能描述:3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High Density PLDs |
| LC4512B-35FT256C | 功能描述:CPLD - 復雜可編程邏輯器件 ispJTAG 2.5V 3.5ns 512MC 208 I/O RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| LC4512B-35FTN256C | 功能描述:CPLD - 復雜可編程邏輯器件 ispJTAG 2.5V 3.5ns 512MC 208 I/O RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
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