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參數資料
| 型號： | TS(X)8387CF |
| 元件分類： | ADC |
| 英文描述： | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| 封裝： | CERAMIC, QFP-68 |
| 文件頁數： | 2/38頁 |
| 文件大小： | 617K |
| 代理商： | TS(X)8387CF |
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TS8387
10/38
3.4.
EXPLANATION OF TEST LEVELS
D
100 % wafer tested at +25
°C (*)
I
100% production tested at +25
°C (*) (for packaged device).
II
100 % production tested at +25
°C (*), and sample tested at specified temperatures
III
Sample tested only at specified temperatures
IV
Parameter is guaranteed by design and characterization testing (thermal steady–state conditions
at specified temperature).
V
Parameter is a typical value only
VI
100 % production tested over specified temperature range.
Only MIN and MAX values are guaranteed (typical values are issuing from characterization results).
* Unless otherwise specified, all tests are pulsed tests : therefore Tj = Tc = Ta
3.5.
INDUSTRIAL WAFER SCREENING LIMITS
Parameter
Temperature
JTS8387 chip
Unit
Min
Max
DC Accuracy @ 50 MPSPS / 10 MHz
DNL
25
°C (*)
–0.56
+0.56
LSB
INL
25
°C ()
–1.23
+1.23
LSB
No missing codes
Guaranteed
AC Performance
@ TBD MPSPS / TBD MHz
25
°C (*)
SNR
25
°C ()
TBD
dB
ENOB
TBD
bit
* Unless otherwise specified, all tests are pulsed tests : therefore Tj = Tc = Ta
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| TS8387MF | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| TS8387CF | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| TS(X)8387CF | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| TS8387CF_ | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
| TS(X)8387CF_ | 1-CH 8-BIT PROPRIETARY METHOD ADC, PARALLEL ACCESS, CQFP68 |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
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