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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | MB81N643289 |
| 廠商： | Fujitsu Limited |
| 英文描述： | DRILL BIT HIGH SPEED STEEL .021,1 |
| 中文描述： | 8 × 256K × 32位的雙倍數(shù)據(jù)速率FCRAMTM |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 52/64頁(yè) |
| 文件大小： | 1732K |
| 代理商： | MB81N643289 |
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52
MB81N643289-50/-60
Preliminary (AE1E)
I
SCITT TEST MODE
ABOUT SCITT
SCITT (Static Component Interconnection Test Technology) is an XNOR circuit based test technology that is used
for testing interconnection between SDRAM and SDRAM controller on the printed circuit boards. SCITT provides
inexpensive board level test mode in combination with boundary-scan. The basic idea is simple, consider all output
of SDRAM as output of XNOR circuit and each output pin has a unique mapping on the input of SDRAM. The ideal
schematic block diagram is as shown below.
It is static and provides easy test pattern that result in a high diagnostic resolution for detecting all open/short faults.
μ
C
ASIC
S
TEST
Control
xAddress
Bus
Data Bus
SDRAM
CORE
XNOR
Boundary
Scan
TEST Control : CAS, CS, PD
xAddress Bus : A
0
to A
10
, BA
0
to BA
2
, RAS, DM
0
to DM
3
, CLK, CLK, WE
Data Bus
: DQ
0
to DQ
31
, DQS
0
to DQS
3
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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