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參數資料
| 型號： | S29CL032J0RFAI113 |
| 廠商： | SPANSION LLC |
| 元件分類： | PROM |
| 英文描述： | 1M X 32 FLASH 3.3V PROM, 48 ns, PBGA80 |
| 封裝： | 13 X 11 MM, 1 MM PITCH, FORTIFIED, BGA-80 |
| 文件頁數： | 52/78頁 |
| 文件大小： | 1825K |
| 代理商： | S29CL032J0RFAI113 |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁當前第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁
54
S29CD-J & S29CL-J Flash Family
S29CD-J_CL-J_00_B1 September27,2006
Prel imi n ary
16 Test Conditions
Note: Diodes are IN3064 or equivalent
Figure 16.1 Test Setup
17 Test Specifications
Table 17.2. Key to Switching Waveforms
17.1
Switching Waveforms
Figure 17.1 Input Waveforms and Measurement Levels
Table 17.1 Test Specifications
Test Condition
54D, 64C
65A, 75E
Unit
Output Load
1 TTL gate
Output Load Capacitance, CL (including jig capacitance)
30
100
pF
Input Rise and Fall Times
5ns
Input Pulse Levels
0.0 V – VIO
V
Input timing measurement reference levels
VIO/2
V
Output timing measurement reference levels
VIO/2
V
Waveform
Inputs
Outputs
Steady
Changing from H to L
Changing from L to H
Don’t Care, Any Change Permitted
Changing, State Unknown
Does Not Apply
Center Line is High Impedance State (High Z)
CL
Device
Under
Test
VIO
VSS
VIO/2 V
Output
Measurement Level
Input
相關PDF資料 |
PDF描述 |
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相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
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| S29GL016A100BAI010 | 制造商:SPANSION 制造商全稱:SPANSION 功能描述:64 Megabit, 32 Megabit, and 16 Megabit 3.0-Volt only Page Mode Flash Memory Featuring 200 nm MirrorBit Process Technology |
| S29GL016A100BAI012 | 制造商:SPANSION 制造商全稱:SPANSION 功能描述:64 Megabit, 32 Megabit, and 16 Megabit 3.0-Volt only Page Mode Flash Memory Featuring 200 nm MirrorBit Process Technology |
| S29GL016A100BAI013 | 制造商:SPANSION 制造商全稱:SPANSION 功能描述:64 Megabit, 32 Megabit, and 16 Megabit 3.0-Volt only Page Mode Flash Memory Featuring 200 nm MirrorBit Process Technology |
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