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參數資料
| 型號： | A3PN125-2VQG100 |
| 元件分類： | FPGA |
| 英文描述： | FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100 |
| 封裝： | 14 X 14 MM, 1.20 MM HEIGHT, 0.50 MM PITCH, ROHS COMPLIANT, VQFP-100 |
| 文件頁數： | 90/106頁 |
| 文件大小： | 3324K |
| 代理商： | A3PN125-2VQG100 |
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ProASIC3 nano DC and Switching Characteristics
2- 70
R e visio n 8
JTAG 1532 Characteristics
JTAG timing delays do not include JTAG I/Os. To obtain complete JTAG timing, add I/O buffer delays to
the corresponding standard selected; refer to the I/O timing characteristics in the "User I/O
Characteristics" section on page 2-12 for more details.
Timing Characteristics
Actel Safety Critical, Life Support, and High-Reliability
Applications Policy
The Actel products described in this advance status datasheet may not have completed Actel’s
qualification process. Actel may amend or enhance products during the product introduction and
qualification process, resulting in changes in device functionality or performance. It is the responsibility of
each customer to ensure the fitness of any Actel product (but especially a new product) for a particular
purpose, including appropriateness for safety-critical, life-support, and other high-reliability applications.
Consult Actel’s Terms and Conditions for specific liability exclusions relating to life-support applications.
A reliability report covering
all
of
Actel’s products is available
on the Actel website at
http://www.actel.com/documents/ORT_Report.pdf. Actel also offers a variety of enhanced qualification
and lot acceptance screening procedures. Contact your local Actel sales office for additional reliability
information.
Table 2-78 JTAG 1532
Commercial-Case Conditions: TJ = 70°C, Worst-Case VCC = 1.425 V
Parameter
Description
–2
–1
Std.
Units
tDISU
Test Data Input Setup Time
0.53
0.60
0.71
ns
tDIHD
Test Data Input Hold Time
1.07
1.21
1.42
ns
tTMSSU
Test Mode Select Setup Time
0.53
0.60
0.71
ns
tTMDHD
Test Mode Select Hold Time
1.07
1.21
1.42
ns
tTCK2Q
Clock to Q (data out)
6.39
7.24
8.52
ns
tRSTB2Q
Reset to Q (data out)
21.31
24.15
28.41
ns
FTCKMAX
TCK Maximum Frequency
23.00
20.00
17.00
MHz
tTRSTREM
ResetB Removal Time
0.00
ns
tTRSTREC
ResetB Recovery Time
0.21
0.24
0.28
ns
tTRSTMPW
ResetB Minimum Pulse
TBD
ns
Note:
For specific junction temperature and voltage supply levels, refer to Table 2-6 on page 2-5 for
derating values.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| A3PN125-VQ100I | FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100 |
| A3PN125-VQ100 | FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100 |
| A3PN125-VQG100I | FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100 |
| A3PN125-VQG100 | FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100 |
| A3PN125-Z1VQ100I | FPGA, 3072 CLBS, 125000 GATES, PQFP100 |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
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| A3PN125-DIELOT | 制造商:Microsemi Corporation 功能描述:A3PN125-DIELOT - Gel-pak, waffle pack, wafer, diced wafer on film |
| A3PN125-VQ100 | 功能描述:IC FPGA NANO 125K GATES 100-VQFP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現場可編程門陣列） 系列:ProASIC3 nano 標準包裝:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB數:- 邏輯元件/單元數:792 RAM 位總計:- 輸入/輸出數:120 門數:30000 電源電壓:1.14 V ~ 1.575 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:289-TFBGA，CSBGA 供應商設備封裝:289-CSP（14x14） |
| A3PN125-VQ100I | 功能描述:IC FPGA NANO 125K GATES 100-VQFP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現場可編程門陣列） 系列:ProASIC3 nano 標準包裝:152 系列:IGLOO PLUS LAB/CLB數:- 邏輯元件/單元數:792 RAM 位總計:- 輸入/輸出數:120 門數:30000 電源電壓:1.14 V ~ 1.575 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:-40°C ~ 85°C 封裝/外殼:289-TFBGA，CSBGA 供應商設備封裝:289-CSP（14x14） |
| A3PN125-VQG100 | 功能描述:IC FPGA NANO 1024MAC 100VQFP RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現場可編程門陣列） 系列:ProASIC3 nano 標準包裝:60 系列:XP LAB/CLB數:- 邏輯元件/單元數:10000 RAM 位總計:221184 輸入/輸出數:244 門數:- 電源電壓:1.71 V ~ 3.465 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:388-BBGA 供應商設備封裝:388-FPBGA（23x23） 其它名稱:220-1241 |
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