- 您現在的位置：買賣IC網 > PDF目錄21999 > EPF10K100EFC256-3 (Altera)IC FLEX 10KE FPGA 100K 256-FBGA PDF資料下載
參數資料
| 型號： | EPF10K100EFC256-3 |
| 廠商： | Altera |
| 文件頁數： | 43/100頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FLEX 10KE FPGA 100K 256-FBGA |
| 產品培訓模塊： | Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs |
| 標準包裝： | 90 |
| 系列： | FLEX-10KE® |
| LAB/CLB數： | 624 |
| 邏輯元件/單元數： | 4992 |
| RAM 位總計： | 49152 |
| 輸入/輸出數： | 191 |
| 門數： | 257000 |
| 電源電壓： | 2.375 V ~ 2.625 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 256-BGA |
| 供應商設備封裝： | 256-FBGA（17x17） |
| 其它名稱： | 544-2192 |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁當前第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁
Altera Corporation
47
FLEX 10KE Embedded Programmable Logic Devices Data Sheet
Generic Testing
Each FLEX 10KE device is functionally tested. Complete testing of each
configurable static random access memory (SRAM) bit and all logic
functionality ensures 100% yield. AC test measurements for FLEX 10KE
devices are made under conditions equivalent to those shown in
Figure 21. Multiple test patterns can be used to configure devices during
all stages of the production flow.
Figure 21. FLEX 10KE AC Test Conditions
Operating
Conditions
recommended operating conditions, DC operating conditions, and
capacitance for 2.5-V FLEX 10KE devices.
Test
System
C1 (includes
JIG capacitance)
Device input
rise and fall
times < 3 ns
Device
Output
703
8.06 k
[481
]
[481
]
VCCIO
Power supply transients can affect AC
measurements. Simultaneous transitions of
multiple outputs should be avoided for
accurate measurement. Threshold tests
must not be performed under AC
conditions. Large-amplitude, fast-ground-
current transients normally occur as the
device outputs discharge the load
capacitances. When these transients flow
through the parasitic inductance between
the device ground pin and the test system
ground, significant reductions in
observable noise immunity can result.
Numbers in brackets are for 2.5-V devices
or outputs. Numbers without brackets are
for 3.3-V. devices or outputs.
Table 19. FLEX 10KE 2.5-V Device Absolute Maximum Ratings
Symbol
Parameter
Conditions
Min
Max
Unit
VCCINT
Supply voltage
With respect to ground (2)
–0.5
3.6
V
VCCIO
–0.5
4.6
V
VI
DC input voltage
–2.0
5.75
V
IOUT
DC output current, per pin
–25
25
mA
TSTG
Storage temperature
No bias
–65
150
° C
TAMB
Ambient temperature
Under bias
–65
135
° C
TJ
Junction temperature
PQFP, TQFP, BGA, and FineLine BGA
packages, under bias
135
° C
Ceramic PGA packages, under bias
150
° C
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| EBC12DCMN | CONN EDGECARD 24POS .100 WW |
| DS1821T | IC THERMOMETER/STAT PROG TO-220 |
| EBC12DCMH | CONN EDGECARD 24POS .100 WW |
| DS1620S-D1 | IC THERMOMETER/STAT DIG 8-SOIC |
| EBC12DCMD | CONN EDGECARD 24POS .100 WW |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| EPF10K100EFC256-3DX | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:ASIC |
| EPF10K100EFC256-3N | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - Flex 10K 624 LABs 191 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EPF10K100EFC484-1 | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - Flex 10K 624 LABs 338 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
| EPF10K100EFC484-1DX | 制造商:未知廠家 制造商全稱:未知廠家 功能描述:ASIC |
| EPF10K100EFC484-1N | 功能描述:FPGA - 現場可編程門陣列 FPGA - Flex 10K 624 LABs 338 IOs RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 柵極數量: 邏輯塊數量:943 內嵌式塊RAM - EBR:1956 kbit 輸入/輸出端數量:128 最大工作頻率:800 MHz 工作電源電壓:1.1 V 最大工作溫度:+ 70 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-256 |
發布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。