Specifications ispLSI 5512VE 10 Figure 8. Boundary Scan Waveforms and Timing Specifications TMS TDI TCK TDO Data to be captured Data to be driv" />

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參數(shù)資料
型號(hào): ISPLSI 5512VE-125LF388I
廠商: Lattice Semiconductor Corporation
文件頁(yè)數(shù): 2/25頁(yè)
文件大小: 0K
描述: IC PLD ISP 256I/O 7.5NS 388FPBGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝: 60
系列: ispLSI® 5000VE
可編程類型: 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時(shí)間 tpd(1): 7.5ns
電壓電源 - 內(nèi)部: 3 V ~ 3.6 V
邏輯元件/邏輯塊數(shù)目: 16
宏單元數(shù): 512
門數(shù): 24000
輸入/輸出數(shù): 256
工作溫度: -40°C ~ 85°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 388-BBGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝: 388-FPBGA(23x23)
包裝: 托盤
其它名稱: ISPLSI5512VE-125LF388I
Specifications ispLSI 5512VE
10
Figure 8. Boundary Scan Waveforms and Timing Specifications
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
Data to be
driven out
Valid Data
Data Captured
btsu
T
bth
T
btcl
T
btch
T
btcp
T
btvo
T
btco
T
btoz
T
btcpsu
T
btcph
T
btuov
T
btuco
T
btuoz
T
SYMBOL
PARAMETER
MIN
MAX
UNITS
tbtcp
TCK [BSCAN test] clock pulse width
125
ns
tbtch
TCK [BSCAN test] pulse width high
62.5
ns
tbtcl
TCK [BSCAN test] pulse width low
62.5
ns
tbtsu
TCK [BSCAN test] setup time
25
ns
tbth
TCK [BSCAN test] hold time
25
ns
trf
TCK [BSCAN test] rise and fall time
50
mV/ns
tbtco
TAP controller falling edge of clock to valid output
–25
ns
tbtoz
TAP controller falling edge of clock to data output disable
–25
ns
tbtvo
TAP controller falling edge of clock to data output enable
–25
ns
tbtcpsu
BSCAN test Capture register setup time
25
ns
tbtcph
BSCAN test Capture register hold time
25
ns
tbtuco
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to valid output
–50
ns
tbtuoz
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output disable
–50
ns
tbtuov
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output enable
–50
ns
相關(guān)PDF資料
PDF描述
REC5-4815SRW/H6/A/SMD/CTRL-R CONV DC/DC 5W 36-72VIN 15VOUT
BAS40DW-06-7-F DIODE SCHOTTKY ARRAY 40V SC70-6
P51-300-A-I-D-4.5OVP-000-000 SENSOR 300PSI 7/16-20UNF .5-4.5V
P51-1500-A-H-M12-5V-000-000 SENS 1500PSI M12-1.5 6G 1-5V
P51-100-A-AD-I12-20MA-000-000 SENSOR 100PSI 7/16-20 UNF 4-20MA
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
ISPLSI5512VE-125LF388I 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
ISPLSI5512VE-155LB272 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
ISPLSI5512VE-155LB388 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
ISPLSI5512VE-155LF256 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
ISPLSI5512VE-155LF256-125I 制造商:Lattice Semiconductor Corporation 功能描述:COMPLEX-EEPLD, 512-CELL, 8NS PROP DELAY, 256 Pin, Plastic, BGA
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