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參數資料
| 型號： | A3PE1500-PQG208 |
| 元件分類： | FPGA |
| 英文描述： | FPGA, 38400 CLBS, 1500000 GATES, PQFP208 |
| 封裝： | 28 X 28 MM, 3.40 MM HEIGHT, 0.50 MM PITCH, GREEN, PLASTIC, QFP-208 |
| 文件頁數： | 81/152頁 |
| 文件大?。?/td> | 4932K |
| 代理商： | A3PE1500-PQG208 |
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ProASIC3E DC and Switching Characteristics
2- 22
v1.2
The length of time an I/O can withstand IOSH/IOSL events depends on the junction temperature. The
reliability data below is based on a 3.3 V, 36 mA I/O setting, which is the worst case for this type of
analysis.
For example, at 110°C, the short current condition would have to be sustained for more than three
months to cause a reliability concern. The I/O design does not contain any short circuit protection,
but such protection would only be needed in extremely prolonged stress conditions.
Table 2-21 I/O Short Currents IOSH/IOSL
Drive Strength
IOSH (mA)*
IOSL (mA)*
3.3 V LVTTL / 3.3 V LVCMOS
4 mA
25
27
8 mA
51
54
12 mA
103
109
16 mA
132
127
24 mA
268
181
2.5 V LVCMOS
4 mA
16
18
8 mA
32
37
12 mA
65
74
16 mA
83
87
24 mA
169
124
1.8 V LVCMOS
2 mA
9
11
4 mA
17
22
6 mA
35
44
8 mA
45
51
12 mA
91
74
16 mA
91
74
1.5 V LVCMOS
2 mA
13
16
4 mA
25
33
6 mA
32
39
8 mA
66
55
12 mA
66
55
* TJ = 100°C
Table 2-22 Duration of Short Circuit Event before Failure
Temperature
Time before Failure
–40°C
> 20 years
0°C
> 20 years
25°C
> 20 years
70°C
5 years
85°C
2 years
100°C
6 months
110°C
3 months
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PDF描述 |
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相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
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| A3PE1500-PQG896 | 制造商:ACTEL 制造商全稱:Actel Corporation 功能描述:ProASIC3E Flash Family FPGAs |
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